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本仕様はフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の供給者および，あるいは購入者により利用され，使用されるすべてのガラス基板に有効である。
This Test Method applies only for 3-point bending method
orgで入手可能となる。初版は1978年発行，前版は2005年7月発行。
and microfluidic devices including valves and pumps
工場の全体的効率を評価するには，少なくとも3項目についての測定が必要である。すなわち，製造活動，資産活用，そしてコストである。このガイドは，製造活動の評価に重点を置いている。資産活用とコスト（およびその他の経済的要因）については，ここでは扱わない。
M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド Revision:SEMI M81-0611 - Superseded 本仕様はフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の供給者および，あるいは購入者により利用され，使用されるすべてのガラス基板に有効である。NOTICE: This translation is a REFERENCE COPY ONLY. If differences should exist between the English version and a translation in any other language, the English version is the official and authoritative version. SEMI SEMI Compound Semiconductor Materials Global Technical Committee2011513global Audits and Reviews Subcommittee20116www. semiviews. org www. semi. org SEMI M55 SiCSiC SiC Referenced SEMI Standards SEMI M55 Specification for Polished
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